本设备运用先进的光学原理进行高精度检测。光源通过光纤传输，经过物镜汇聚于样品上实现高效的透/反射过程，透/反射光被积分球接收，光谱仪迅速捕捉光信号。 设备内置精密算法，不仅能够快速、准确地计算出 T% & R%，还能同步完成色坐标与涂层厚度的精确测量， 为材料光学特性分析、涂层质量管控等多领域应用提供一站式精准数据支持。

T40 & R40 测试工站

（添加偏振片）机制

T0 测试工站

R10 测试工站

（余弦探头替换积分球）机制