
透射波前误差测试设备(TWE)
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TWE主要用于评估光通过时光学元件的性能。准直光穿过DUT后,等相位平面波发生变化所产生的与理论平面之间的误差由波前传感器检测到,通过计算可以得到PV、RMS、MTF、像差等结果。

无损精测
非接触式无损检测,不伤产品分毫
智控软件
定制化软件功能,按需求输出统计图表
速换销钉
插拔式定位销钉,可快速切换以兼容不同尺寸产品
纳米精度
高解析度,测量精度10nm RMS
码上追溯
支持产品读码追溯
灵便操控
手动上下料,自动化测试
非接触式无损检测,不伤产品分毫
智控软件
定制化软件功能,按需求输出统计图表
速换销钉
插拔式定位销钉,可快速切换以兼容不同尺寸产品
纳米精度
高解析度,测量精度10nm RMS
码上追溯
支持产品读码追溯
灵便操控
手动上下料,自动化测试
精准视控
辅助视觉定位系统,准确捕捉测试区域
辅助视觉定位系统,准确捕捉测试区域
