薄膜分析

高效、精确测量全光谱反射率的理想解决方案

全光谱反射率检测设备适用于各种光学元件、平面玻璃、油墨孔镀膜镜片、手机屏及触摸面板等产品的颜色、反射亮度和光谱反射率的测量,采用尖端技术,具有快速、简易及精确等优势。

应用背景

反射率是指物体表面反射的光通量与入射到物体表面的光通量的百分率,表示介质对光线的反射能力,数值越大则反射能力越强。
对于目前电子产品使用的平面玻璃、镜片、显示屏等关键部件,在生产过程中通常要经过镀膜工艺处理,并随着镀膜厚度的增加,玻璃会呈现出不同的颜色。而且在玻璃完成镀膜等加工工艺后,需要对薄膜表面的反射率进行测量计算,从而对镀膜工艺进行监控,增加镀膜工艺的稳定性,以确保其达到标准。

产品亮点

  • 1

    可定制半自动/全自动机械设计,适合各类平面光学元件透光率的批量全检

  • 2

    成功解决由玻璃厚度不同引起的上下表面反射光束不一致的问题

  • 3

    准确测量镀膜面在不同角度下的反射率光谱、颜色及亮度信息

  • 4

    测量光谱范围宽 ( 380-830nm ) , 可显示各波段反射率及全部光谱曲线

  • 5

    简单操作,快速测量 ( 测量时间<1秒 )

  • 6

    自主开发软件操作系统,通过设定标准值进行对比管控,满足客户定制化需求

应用效果

技术背景

反射率光谱测量是以光路设计为核心,包含光谱仪以及光源、光纤及透镜等,将入射光精准定位穿过测量样品指定区域,并通过积分球收光将光传输到光谱仪,通过软件实时分析各波段的反射率。
反射率光谱测量具有众多技术优势,如不需要空间耦合、工作稳定且对环境要求低等,同时结构易改动、重新设计制造周期短、成本低,能更完美适应新需求及应用。
反射率光谱测量可适应大批量生产的需求,且系统重复性极佳,对光学设计技术要求高,同时需熟练掌握相应的机械运动、电路电气设计及相应的软件应用技术,搭建整个光谱测量系统, 以满足客户提供定制化测试设备需求。

技术优势

  • 1

    自主专利的全光纤设计方案,结构简单、成本低、交付周期短、设备调试简单

  • 2

    自主设计机械及电路电气方案,满足半自动、自动化及测试精准定位要求

  • 3

    自主开发操作软件,满足对比标准实时显示测试判定结果及统计汇总测试样品数据

参数列表

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